Insplorion X1

品牌：Insplorion

Insplorion X1仪器的开发是为了从室温到600℃原位和实时研究，比如气体吸附/吸收过程或与催化相关的薄的聚合物膜和材料的相转变（比如：Tg）。

X1测量几乎任何纳米材料或薄膜、电介质和金属的由比如气体成分或温度梯度引起的结构和/电介质变化。Insplorion X1仪器包括快速启动和生成高质量数据所需的一切。仪器有两个样品位置，允许进行两次平行测量。我们提供的产品包括所有硬件、软件、支持和初步培训，帮助您开始并理解获得的结果。

Insplorion X1使用远程光学读数，因此只需要将传感器芯片而非敏感光学设备放置在反应室内。因此，X1可以在高温（最高600°C）和常压（大气）下工作，并且仍然保持高分辨率和灵活

高温反应器

* Insplorer软件兼容Bronkhorst^®品牌的质量流量控制器

传感器芯片

* 可订购客户化的薄膜涂层传感器

光学读数性质

*可自定义选项和可替换，**可自定义波长范围，***在液相环境中的采样速率达到1Hz

尺寸（宽度x深度x高度） 

软件

氢气传感/贮存

Insplorion NPS技术为储氢和固态反应领域的研究者提供了一种新的、强大的研究工具，以克服众多的实验挑战。NPS的测量集中在一个明确的模型系统上，在“运行”条件下和受控的微环境中使用少量的样品。这导致了各种梯度的最小化，以及广泛的粒径分布的扭曲。高时间分辨率使快速变化过程能够在高温下的固态反应中被监控。

成功故事NPS技术已成功地用于解决纳米储存实体储氢领域的以下问题：1、在D<5nm尺寸范围内，钯纳米粒子的氢化和脱氢动力学的尺寸依赖性。
2、在D<5nm尺寸范围内，钯纳米粒子氢化物形成和分解热力学的尺寸依赖性。
3、金属纳米粒子中氢化物形成与分解之间的尺寸依赖性滞后现象的研究。
4、镁和钯纳米粒子氢化物形成热力学的定量单粒子研究。 

超薄的聚合物膜和纳米结构/纳米粒子的玻璃化转变温度

在超薄聚合物膜中，玻璃化转变温度Tg因近表面层（几纳米厚）的存在而变得尺寸/厚度依赖，其中聚合物片段具有不同的流动性。Insplorion的NPS技术为聚合物薄膜领域的研究者提供了一个研究相变的强大工具。      

成功故事
NPS技术已成功地用于解决以下现象：
1、无规聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）玻璃化转变温度（Tg）薄膜的厚度依赖性。
2、聚苯乙烯（PS）纳米粒子中玻璃化转变温度（Tg）的尺寸依赖性。

性。